Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?

Основы зондовых технологий

Main
Основы зондовых технологий

Основы зондовых технологий

Корнилов В.М., Галиев А.Ф.

0 / 4.5

Avez-vous aimé ce livre?

Quelle est la qualité du fichier téléchargé?

Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité

Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?

В пособии изложены основные этапы развития зондовой микроскопии. Подробно рассмотрены принципы и физические основы работы зондовых микроскопов. Пособие содержит цикл лабораторных работ

Année:

2013

Editeur::

ЭБС Лань

Langue:

russian

Pages:

40

ISBN 10:

5879787192

ISBN 13:

9785879787191

Fichier:

PDF, 1.63 MB

IPFS:

,

russian, 2013

Lire en ligne

La conversion en est effectuée

La conversion en a échoué

Cela peut vous intéresser

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Кухаренко, Л. В. — Сканирующая зондовая микроскопия для анализа медико-биологических объектов

Габдуллин П.Г. и др. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия.

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Авачёв А. П., Вишняков Н. В., Гололобов Г. П., Митрофанов К. В. — Методические пособия для проведения лабораторных работ по направлению «Наноматериалы»

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Штейн Г.И. — Руководство по конфокальной микроскопии

Корнилов В. М., Галиев А.Ф.;рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г. — Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Баранов А.В., Литвин А.П., Парфенов П.С., Ушакова Е.В. — Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2. Лабораторный практикум

Корнилов В.М., Галиев А.Ф. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Демиховский В.Я., Филатов Д.О. — Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии

Гусенко И.В. — Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Габдуллин П.Г., Костюченко З.А., Поречная Н.И. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия

Битюцкая Л.А. и др. (сост.) — Нанотехнологии в физике. Дистанционная лаборатория атомно-силовой микроскопии нанообъектов. Часть 1: Тестирование. Обработка и анализ изображения

Андреева Н.В., Габдуллин П.Г. — Физика и диагностика биомолекулярных систем. Исследования методами зондовой микроскопии

Булыгина Е.В., Макарчук В.В. и др. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Круглов А.В., Голубок А.О. — Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Лямкин А.И. — Экспериментальные методы исследований (Презентация)

Федоров А.В., Баранов А.В., Литвин А.П., Черевков С.А. — Специальные методы измерения физических величин

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Чистоедова И. А. — Оборудование для создания и исследования свойств объектов наноэлектроники

Коллектив авторов — Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов — Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Г. Бинниг, Г. Рорер — Сканирующая туннельная микроскопия - от рождения к юности

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Методичка. — Исследование наноматериалов с помошчью сканируюшчей зондовой микроскопии

Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова — Современные достижения бионаноскопии: Сборник тезисов Второй международной конференции (Москва, 17-18 июня 2008 г.)

Филатов Д.О., Круглов А.В. — Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы

Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. — Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы

Mots Clefs

поверхности

микроскопа

сканирования

изображение

изображения

микроскоп

поверхностью

туннельного

туннельный

кантилевера

образцом

разрешение

увеличение

микроскопии

изображений

позволяет

электронов

микроскопом

микроскопия

поверхность

измерения

оптического

представляет

расстояние

силового

сканирующий

туннельная

взаимодействия

объектов

управления

качестве

качество